硬件介绍

● 针对LA/LIBS双重性能而设计的紧凑、模块化系统，使其使用方式更加灵活：激光电源模块可从主机中分离出来，放置在实验台下方，节省空间；LA可升级为LIBS或Tandem，复合系统可以在独立的LA或LIBS模式下运行，也可以作为一个LA-LIBS复合系统运行。

● 考虑到样品表面的形态变化，可自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性 

● 我们提供两种类型的样品池：Vertex™双体积样品池，可提高传输效率和冲洗性能；Flex™样品池，具有可互换镶嵌模块，调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间，优化气流和微粒冲洗性能，Flex™样品池的设计为等离子体提了一个最优视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。 

● 创新型多通道气流管理单元设计，减少脱气，防止了任何剥蚀颗粒的堆积，消除了记忆效应。 

● 高精度气体流量控制系统，气体流量被精确控制，防止等离子体火焰熄灭。

● 拥有先进的照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像系统，提供广角视野和高倍成像，可精确地进行微区分析(见下图)。广角视图可以保存，也可用于定位样品不同位置，并使用高倍镜进行研究。具有LED泛光、透射光和同轴反射光（光的强度和颜色可调）三种独立的照明模式，以提高图像质量和对比度。

● 做为独立的LIBS仪器系统，亦可同时配备任意两种检测器，开辟了新的LIBS检测功能。

软件介绍

● 分析人员可以在样品图像上编辑任意激光采样模式，包括直线、曲线、随机点、任意大小的网格和自定义的图案。

● 将多个硬件指令组合在一起，并进行排序，形成一个自动检测“方案”。只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以满足新的采样需求，使检测过程高度自动化。

● 用于高效识别LIBS发射线的TruLIBS™数据库，是美国应用光谱公司专有的科研数据库，它是从真实的LIBS等离子体中获得，并且与理论线预测模型结合在一起，帮助分析人员快速而准确地识别复杂的LIBS发射线。分析人员可以指定搜索条件，如波长范围，元素组和等离子体激发态，以缩小搜索范围。分析软件使用TruLIBS™数据库加载收集的LIBS光谱并标记发射峰。

● 利用光谱分析工具快速处理大量数据：基本的LIBS光谱分析工具，如连续背景扣除、峰面积积分和光谱重叠峰的曲线拟合等，有助于分析人员有效地处理LIBS谱图并获得定量结果。分析人员可监测多次激光脉冲采样期间LIBS强度或不同分析物比例的统计数据。不仅可处理单个LIBS谱图，而且可同时处理整个文件夹或多个目录下的数据，从而大大缩短分析时间。

● 分析软件具有时间分辨ICP-MS数据分析工具，对于获取精确定量结果和精确统计数据至关重要。分析者可以选择感兴趣的同位素并显示它们的时间分辨ICP-MS信号以进行比较分析。该软件指导分析人员定义积分时间和背景范围，并保存，可将它们应用到文件或目录中的所有ICP-MS数据，可以轻松地预测积分强度和RSD值。也可轻松获得平滑的时间分辨ICP-MS信号和TRSD（时间相对标准偏差）。时间分辨ICP-MS信号处理方法可应用于文件或整个目录中的所有数据，大大缩短了预测信号强度所需的时间。

● LIBS光谱和质谱的生成：根据同位素ICP-MS信号强度以及痕量元素信息，分析软件生成代表样品化学指纹的质谱图。LIBS光谱根据主要和次要元素提供特征信息。分析软件可借助LIBS光谱和质谱数据，提供样品中关于主要、次要和痕量元素全面的化学信息。LIBS和MS的数据是形成光谱库的基础，先进的校准模型正是基于光谱库进行精确的定量分析。 LIBS光谱和质谱融合在一起，在司法鉴定中提供更强的辨别能力。

● 分析软件可用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析。通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度，可轻松生成单变量校准曲线。软件附带常见固体标样的单变量校准模型。 另外，它也可使用完整的或特定范围的质谱图，创建谱库，构建有效、多元的校准模型，以准确检测未知样品的元素浓度。

● 分析软件包含主成分分析（PCA）功能，可根据样品的LIBS光谱及质谱数据进行分析，PCA图可直观显示样品差异。软件中的PCA功能是对各种样品（包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等）进行分类或鉴别的理想方法。同时，该软件提供名为“Spectralearn”的可选软件模块。 基于偏最小二乘法判别分析（PLS-DA），“Spectralearn”模块将LIBS光谱和质谱作为样品的特征谱图储存在谱图库中。 获得的任何物质的谱图都可以与谱图库进行匹配，根据匹配结果识别样品。

● 使用DepthTracker™进行元素的快速深度剖析。在固定点激光脉冲多次采样过程中，分析软件中的DepthTracker™ 能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰强度，揭示不同深度处元素组成的变化。DepthTracker™对于确定样品表面污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别夹杂物都是一项非常有价值的功能。

● 分析软件提供了一个元素成像模块，可将LIBS强度和时间分辨ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图像。 基于LIBS和LA-ICP-MS的检测数据，该软件能够将整个周期表中所有元素的浓度（ppb~%）可视化。该软件制作的LA-ICP-MS元素分布图揭示痕量元素（＜ppm）的分布状态，LIBS元素分布图涵盖ICP-MS难以处理的主要和次要元素，如轻元素、有机元素以及卤素。同时使用LIBS和LA -ICP - MS进行元素成像，在失效分析、能源材料研究、药物研发、司法鉴定和其他新兴的分析应用中是一种真正具有突破性的技术。

技术参数